USB 3.1 TYPE C連接器信號完整性如何測試？

對信號完整性的測試與對其進行模擬計算一樣，都需要從時域和頻域兩個方面來進行分析。 在時域上對電連接器信號完整性的測試主要是使用時域反射計（TDR）來對電連接器的特性阻抗的變化情况進行測試，測試的結果會以曲線的形式顯示在時域反射計（TDR）的顯示幕上。 在頻域上對信號完整性的分析使用的測試儀器是向量網絡分析儀（VNA），向量網絡分析儀（VNA）主要功能是測試電連接器中多導體的S參數，隨著儀器的完善，部分也已經可以測試時域的特性阻抗值。

為保證量測結果的準確性和可靠性，要在實驗測試前對檢測設備進行校準，以避免設備在長期的使用中計量性發生偏移，或者較大偏差。 在進行測試工作前首先要對測試儀器——向量網絡分析儀（VNA）進行校準。 測試時無需關心被測對象的內部結構，只需要獲取兩邊參攷平面的相關參數即可。同時需要把參攷平面進行校準，通過校準，參攷平面移動到被測對象的兩端，進而消除掉系統誤差； 其實誤差消除的過程就是一個數學運算的過程，實際的量測結果是由被測對象的實際特性向量與被測對象無關的特性向量疊加形成的，所以只要知道了與被測對象無關的特性向量，是很容易將這部分的誤差剔除出去的， 剔除無關因素之後的結果就是真正的量測結果。